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标准号:

GB/T 14619-2013

中文标准名称:

厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

原文标准名称:

暂无

发布日期:

2013-11-12

实施日期:

2014-04-15

废止日期:

暂无

代替标准:

被代替标准:

GB/T 14619-1993;

标准简介:

本标准规定了厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本标准适用于厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的生产和采购,采用厚膜工艺的片式元件用氧化铝陶瓷基片(以下简称基片)也可参照使用。

采用标准:

暂无

修改单下载:

暂无

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